Événement

BAAHE Conference 2025 - Language and literature across the lifespan

La thématique de la conférence de cette année : « La langue et la littérature tout au long de la vie ». Conférenciers principaux :Michael Erard, dont le dernier ouvrage, Bye Bye I Love You: The Story of Our First and Last Words, a inspiré notre choix de thèmeVanessa Joosen, qui partagera les dernières conclusions de ses travaux passionnants sur la représentation de l'âge et du parcours de vie dans la littérature jeunesse. Parmi les intervenants figurent :Winny AngSteven GilbersPatrick McGuinnessPeter PetréEmma-Louise SilvaMarkus Werkle-BergnerLa conférence aura lieu le vendredi 12 décembre 2025 et sera précédée d'un symposium interdisciplinaire d'une demi-journée, intitulé « Lifelines: Language, memory and the life course », qui se tiendra le jeudi 11 décembre. La conférence est ouverte aux membres de la BAAHE et aux non-membres (ou futurs membres).  Plus d'infos
Voir le contenu
Événement

Lunch de la philo | Boris Tilquin, scénariste

Après un bachelier en Philosophie à Namur, Boris Tilquin travaille comme chef décorateur avant d'intégrer un bachelier de montage à l'IAD à Louvain-La-Neuve, de collaborer à l'écriture avec plusieurs réalisateurs et d'intégrer un master en Ecriture de scénario à l'IAD. Il sort en 2016 et travaille directement comme scénariste sur une série télévisée et plusieurs films de cinéma. Il est également Vice Président de l'Association des Scénaristes entre 2018 et 2023 et membre effectif de la Commission du film du Centre du Cinéma de la Fédération Wallonie Bruxelles de 2020 à 2025. À partir de 2020, il transmet son expérience de scénariste à des étudiants dans des conférences et des cours du soir. En 2023, il intègre le Master en Cultures et pensées cinématographiques pour revenir dans cette faculté de Philosophie de Namur... qu'il est décidément difficile de quitter !Sandwich offert sous condition d'inscription avant le lundi 31/10 à l'adresse : laetitia.riss@unamur.be
Voir le contenu
Page

Microscopie à force atomique (AFM)

La microscopie à force atomique (AFM) pour la caractérisation topographique et mécanique des surfaces à l’échelle nanométrique.
Voir le contenu
Page

Services : caractérisation et fonctionnalisation

Solutions de caractérisation et de fonctionnalisation La plateforme SIAM peut fournir des solutions de caractérisation et/ou d'analyse dans des domaines tels que : le photovoltaïque, les revêtements intelligents, les nanomatériaux, la santé publique, les applications biomédicales, pour n'en citer que quelques-uns. Notre portefeuille de clients couvre plusieurs secteurs industriels, des PME et des universités. Nos clients bénéficient d'une approche technique globale (guichet unique) « grâce à ses logisticiens de recherches qui assurent un accompagnement du début de la demande jusqu’à la livraison des résultats. En savoir plus sur la plateforme SIAM Expertise Voir le contenu Equipement Voir le contenu Etudes de cas Voir le contenu Equipe Voir le contenu Contact | Plateformes technologiques Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) siam@unamur.be
Voir le contenu
Page

Equipements de pointe

Plusieurs équipements de pointe permettent la synthèse, l'irradiation, la fonctionnalisation et l'analyse d'échantillons :Spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS)Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS)L'analyse par faisceau d'ions (IBA)La fonctionnalisation par faisceaux d'ions (IBMM)Le traitement par plasma (PECVD, DC, RF et AC)
Voir le contenu
Page

Etudes de cas

SIAM vous propose quelques exemples de services selon la technique utilisée.
Voir le contenu
Page

L'équipe de SIAM

Directeur | Julien Colaux Julien Colaux est Docteur en sciences physiques.  Son expertise couvre la physique nucléaire (Analyse par faisceau d'ions - IBA, Implantation ionique) et l'élaboration de couches minces par PVD et PECVD.Contact : julien.colaux@unamur.be  Porte-parole | Pierre Louette Pierre Louette est Docteur en sciences physiques et agrégé de l'enseignement secondaire supérieur.  Son expertise couvre les techniques de spectroscopies d'électrons (XPS, HREELS, EELS, ...) et l'enseignement de la physique.Contact : pierre.louette@unamur.be  Expert IBA | Paul-Louis Debarsy Contact : paul-louis.debarsy@unamur.be  Expert en analyse de surfaces | Alexandre Felten Contact : alexandre.felten@unamur.be   Ingénieur ALTAÏS | Tijani Tabarrant Contact : tijani.tabarrant@unamur.be  Technicien senior | Frédéric ComeAssistante administrative | Olivia Genot Contact | Plateformes technologiques Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) siam@unamur.be
Voir le contenu
Page

Contact

Contact | Plateformes technologiques Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) siam@unamur.be
Voir le contenu
Page

IBA - Analyse par faisceau d'ions

L'IBA utilise des faisceaux d'ions MeV pour sonder la composition et obtenir des profils de profondeur élémentaire dans la couche proche de la surface des solides.Cette technique permet : L'analyse de la biodistribution et biopersistance (in vivo) des nanomatériaux, leur caractérisation et leur quantification ;La caractérisation des matériaux en couches minces et des particules en suspension dans l'air ;L'étude de transformation de phase.L'IBA joue un rôle prépondérant, depuis des décennies en astrophysique nucléaire, science des matériaux, sciences du vivant ou encore sciences du patrimoine et archéologie.
Voir le contenu
Page

IBMM - Modification par faisceaux d'ions

L'IBMM (Ion Beam Modification of Materials) permet de modifier les propriétés électroniques, optiques, mécaniques ou magnétiques de divers matériaux de façon contrôlée. C’est ce qu’on appelle fonctionnaliser les matériaux.Ce procédé permet un contrôle précis de la composition et de la structure des matériaux au niveau atomique, ce qui ouvre la voie à des applications dans les domaines de l'électronique, des biomatériaux et des revêtements spécialisés.
Voir le contenu
Page

PECVD, DC, RF et AC - Traitement par plasma

Plasma sputteringProcédé dans lequel des particules énergétiques issues d'un plasma gazeux bombardent un matériau cible solide, délogeant (pulvérisant) ses atomes. Ces atomes éjectés se déposent ensuite sur un substrat, formant une couche ultra-fine. Il s'agit d'un type de dépôt physique en phase vapeur (PVD) utilisé pour créer des revêtements et des films minces destinés à diverses applications, notamment la fabrication de semi-conducteurs, les dispositifs optiques et les surfaces résistantes à l'usure.4 chambres pour le plasma sputtering (DC, RF and AC)Fonctionnalisation par plasma Déposition de couches minces PECVD deposition Le PECVD (dépôt chimique en phase vapeur assisté par plasma) est une technique de dépôt de couches minces qui utilise l'énergie plasma pour activer des précurseurs gazeux, provoquant leur réaction et la formation d'un film solide sur un substrat. Le principal avantage du PECVD est qu'il fonctionne à des températures plus basses que le CVD classique, ce qui permet de déposer des films de haute qualité sur des matériaux sensibles à la température et de créer diverses couches isolantes, protectrices et électroniques dans les domaines de la microélectronique, de l'optique et du conditionnement.4 chambre pour la déposition et la fonctionnalisation PECVD Traitement par poudre Les autres équipements et technologies associés Image IBA - Analyse par faisceau d'ions Voir le contenu Image IBMM - Modification par faisceaux d'ions Voir le contenu Image ToF-SIMS - Spectroscopie de masse par ions secondaires à temps de vol Voir le contenu Image XPS - Spectroscopie Photoélectronique à rayons X Voir le contenu
Voir le contenu
Page

ToF-SIMS - Spectroscopie de masse par ions secondaires à temps de vol

La technique ToF-SIMS (spectroscopie de masse par ions secondaires à temps de vol) permet de déterminer la composition élémentaire et moléculaire de la surface d’un échantillon. Elle est très utile également pour réaliser des cartographies 2D (du µm2 au cm2) et des profils en profondeurs (grâce à un canon de décapage).Les atouts sont :Haute résolution en masseHaute résolution latérale et en profondeur (200nm et 1nm)Haute sensibilité (ppm)Détection parallèle de tous les ionsIdentification élémentaire, isotopique et moléculaire3 modes d’analyse : spectrométrie, imagerie, profilage en profondeur
Voir le contenu