Plusieurs équipements de pointe permettent la synthèse, l'irradiation, la fonctionnalisation et l'analyse d'échantillons :

• Spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS)
• Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS)
• L'analyse par faisceau d'ions (IBA)
• La fonctionnalisation par faisceaux d'ions (IBMM)
• Le traitement par plasma (PECVD, DC, RF et AC)