Résultats de recherche

Notre unité accueille des doctorants et post-doctorants à condition qu’un financement soit obtenu. Contacter l'URBC

Principal livrable du projet interuniversitaire FWB/CoARA, la plateforme PINDARE (Plateforme INteruniversitaire D’Accompagnement de la REcherche) présente la singularité et l’intérêt de centraliser un agenda interuniversitaire d’activités de recherche transversales en FWB et de rendre visibles et accessibles, à partir du même endroit, de nombreuses ressources utiles pour l’ensemble des chercheuses et chercheurs. 

La plateforme Synthèse, Irradiation et Analyse des Matériaux (SIAM)  s'appuie sur sa capacité à utiliser et à combiner différentes spectroscopies (XPS, ToF-SIMS et IBA) pour caractériser les matériaux. Ces techniques permettent une évaluation complète de presque tous les types d'échantillons, tels que : métaux, soudures, verre, polymères, poudres, liquides, matériaux biologiques in vivo, etc.SIAM dispose de plusieurs installations pour la fonctionnalisation des matériaux et/ou la synthèse de films minces par traitements plasma.Notre expérience, acquise dans le cadre de plusieurs projets financés par la Commission européenne et des régions, nous qualifie pour l'analyse d'échantillons complexes tels que : les nanoparticules dans des matrices complexes (aliments, milieux de culture, cellules issues d'expériences in vitro et organes issus d'expériences in vivo).

Solutions de caractérisation et de fonctionnalisation La plateforme SIAM peut fournir des solutions de caractérisation et/ou d'analyse dans des domaines tels que : le photovoltaïque, les revêtements intelligents, les nanomatériaux, la santé publique, les applications biomédicales, pour n'en citer que quelques-uns. Notre portefeuille de clients couvre plusieurs secteurs industriels, des PME et des universités. Nos clients bénéficient d'une approche technique globale (guichet unique) « grâce à ses logisticiens de recherches qui assurent un accompagnement du début de la demande jusqu’à la livraison des résultats. En savoir plus sur la plateforme SIAM Expertise Voir le contenu Equipement Voir le contenu Etudes de cas Voir le contenu Equipe Voir le contenu Contact | Plateformes technologiques Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) siam@unamur.be

Plusieurs équipements de pointe permettent la synthèse, l'irradiation, la fonctionnalisation et l'analyse d'échantillons :Spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS)Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS)L'analyse par faisceau d'ions (IBA)La fonctionnalisation par faisceaux d'ions (IBMM)Le traitement par plasma (PECVD, DC, RF et AC)

SIAM vous propose quelques exemples de services selon la technique utilisée.

Directeur | Julien Colaux Julien Colaux est Docteur en sciences physiques.  Son expertise couvre la physique nucléaire (Analyse par faisceau d'ions - IBA, Implantation ionique) et l'élaboration de couches minces par PVD et PECVD.Contact : julien.colaux@unamur.be  Porte-parole | Pierre Louette Pierre Louette est Docteur en sciences physiques et agrégé de l'enseignement secondaire supérieur.  Son expertise couvre les techniques de spectroscopies d'électrons (XPS, HREELS, EELS, ...) et l'enseignement de la physique.Contact : pierre.louette@unamur.be  Expert IBA | Paul-Louis Debarsy Contact : paul-louis.debarsy@unamur.be  Expert en analyse de surfaces | Alexandre Felten Contact : alexandre.felten@unamur.be   Ingénieur ALTAÏS | Tijani Tabarrant Contact : tijani.tabarrant@unamur.be  Technicien senior | Frédéric ComeAssistante administrative | Olivia Genot Contact | Plateformes technologiques Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) siam@unamur.be

Contact | Plateformes technologiques Synthèse, Irradiation et Analyse de Matériaux (SIAM) siam@unamur.be

L'IBA utilise des faisceaux d'ions MeV pour sonder la composition et obtenir des profils de profondeur élémentaire dans la couche proche de la surface des solides.Cette technique permet : L'analyse de la biodistribution et biopersistance (in vivo) des nanomatériaux, leur caractérisation et leur quantification ;La caractérisation des matériaux en couches minces et des particules en suspension dans l'air ;L'étude de transformation de phase.L'IBA joue un rôle prépondérant, depuis des décennies en astrophysique nucléaire, science des matériaux, sciences du vivant ou encore sciences du patrimoine et archéologie.

L'IBMM (Ion Beam Modification of Materials) permet de modifier les propriétés électroniques, optiques, mécaniques ou magnétiques de divers matériaux de façon contrôlée. C’est ce qu’on appelle fonctionnaliser les matériaux.Ce procédé permet un contrôle précis de la composition et de la structure des matériaux au niveau atomique, ce qui ouvre la voie à des applications dans les domaines de l'électronique, des biomatériaux et des revêtements spécialisés.

Plasma sputteringProcédé dans lequel des particules énergétiques issues d'un plasma gazeux bombardent un matériau cible solide, délogeant (pulvérisant) ses atomes. Ces atomes éjectés se déposent ensuite sur un substrat, formant une couche ultra-fine. Il s'agit d'un type de dépôt physique en phase vapeur (PVD) utilisé pour créer des revêtements et des films minces destinés à diverses applications, notamment la fabrication de semi-conducteurs, les dispositifs optiques et les surfaces résistantes à l'usure.4 chambres pour le plasma sputtering (DC, RF and AC)Fonctionnalisation par plasma Déposition de couches minces PECVD deposition Le PECVD (dépôt chimique en phase vapeur assisté par plasma) est une technique de dépôt de couches minces qui utilise l'énergie plasma pour activer des précurseurs gazeux, provoquant leur réaction et la formation d'un film solide sur un substrat. Le principal avantage du PECVD est qu'il fonctionne à des températures plus basses que le CVD classique, ce qui permet de déposer des films de haute qualité sur des matériaux sensibles à la température et de créer diverses couches isolantes, protectrices et électroniques dans les domaines de la microélectronique, de l'optique et du conditionnement.4 chambre pour la déposition et la fonctionnalisation PECVD Traitement par poudre Les autres équipements et technologies associés Image IBA - Analyse par faisceau d'ions Voir le contenu Image IBMM - Modification par faisceaux d'ions Voir le contenu Image ToF-SIMS - Spectroscopie de masse par ions secondaires à temps de vol Voir le contenu Image XPS - Spectroscopie Photoélectronique à rayons X Voir le contenu

La technique ToF-SIMS (spectroscopie de masse par ions secondaires à temps de vol) permet de déterminer la composition élémentaire et moléculaire de la surface d’un échantillon. Elle est très utile également pour réaliser des cartographies 2D (du µm2 au cm2) et des profils en profondeurs (grâce à un canon de décapage).Les atouts sont :Haute résolution en masseHaute résolution latérale et en profondeur (200nm et 1nm)Haute sensibilité (ppm)Détection parallèle de tous les ionsIdentification élémentaire, isotopique et moléculaire3 modes d’analyse : spectrométrie, imagerie, profilage en profondeur