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La technique XPS permet détecter les éléments présents à la surface d’échantillons, de déterminer leur concentration atomique ainsi que leur état chimique (par ex. C-C, C-O, C-F ou états d’oxydation). Il est également possible de réaliser des profilages en profondeur pour déterminer la concentration atomique de multicouches.

En 2025-2026, la Faculté de droit de l’UNamur a l’honneur et le privilège d’accueillir la professeure Delphine Misonne à l’occasion d’une Chaire Francqui qui lui a été décernée par la Fondation Francqui : « Besoin d’environnement, besoin de droit ? ». Delphine Misonne est Maître de recherches FNRS, Professeure à l'UCLouvain, Directrice du CEDRE et membre de l'Académie royale de Belgique.L’organisation de cette chaire s’intègre pleinement dans le Fil Rouge de la Faculté de droit dédiée à ce substrat essentiel à la vie qu’est l’environnement, la nature, notre terre : « Réenchanter la terre ». 

Pierre AssenmakerSandrine BiémarLouis CarréJérémy DodeigneCatherine GuirkingerWafa HammediErika Lombart (ADRE)Laurence MeurantLouis Escouflaire (logisticien de recherche)

Jean-François Colomer | Responsable et porte-parole Corry Charlier | Ingénieur Caroline De Bona | Technicienne

1) JEOL 6010LV RÉSOLUTION   High vacuum mode 4.0 nm à 20 kV 8.0 nm à 3 kV 15.0 nm à 1 kVLow vacuum mode  5.0 nm à 20 kVGROSSISSEMENT 8X à x 300kXMODES D'IMAGERIEen électrons secondaires (SEI)en électrons rétrodiffusés (BEI) Microanalyseur X à sélection d’énergie SDD QUANTAX et Détecteur pour la diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD) e-Flash QUANTAX de la marque BRUKERRésolution en énergie < 129 eV à MnKaTaille 30 mm²Refroidi par effetExcellente performance en matière d'éléments légers et de faible énergie, gamme d'éléments B - AmImagerie CMOSRésolution de l'image : 720 x 540 pixelVitesse : jusqu'à 520 images/seconde (fps)L'acquisition et le traitement des données s'effectuent à l'aide de la même interface. 2) JEOL 7500F RÉSOLUTION     1.0 nm à 15 kV1.4 nm à 1 kV (mode Gentle beam)2.0 nm à 1 kV (mode SEM)GROSSISSEMENT25X à 1000kXMODES D'IMAGERIEen électrons secondaires (2 détecteurs SEI ou LEI)en électrons rétrodiffusés (LABE)en électrons transmis (TED)POTENTIEL D'ACCÉLÉRATIONmode SEM : 0.5 à 30 kV (par pas de 10 V de 0.5 à 2.9 kV et par pas de 100 V de 2.9 à 30 kV)mode GB : de 0.1 à 4 kV (par pas de 100V) Microanalyseur X à sélection d’énergie JED-2300FDétecteur : Ultra Nine 30Taille 30 mm²Refroidissement par azote liquide (Dewar 9,5 l)Résolution meilleure que 138 eV (FWHM) sur la raie du manganèse KaDétection à partir du Bore jusqu’à l’Uranium

1) FEI TECNAI 10 SOURCEFilament WPERFORMANCES À 100 KVTEM point resolution : 0.42 nmTEM line resolution : 0.34 nmTEM Magnification range : 19X - 530kXMODES D'IMAGERIEmode champ clair (bright field)mode champ sombre (dark field)POTENTIEL D'ACCÉLÉRATIONde 40 kV à 100 kV 2) FEI TECNAI G² 20 SOURCEFilament LaB6PERFORMANCES À 200KVTEM point resolution : 0.27 nmTEM line resolution : 0.14 nmTEM Magnification range : 25X - 700kXMODE STEM - HAADF DETECTORSTEM Resolution : 1 nmSTEM magnification range : 100X - 5MXPOTENTIEL D'ACCÉLÉRATIONde 80 kV à 200 kV Microanalyseur X à sélection d’énergie SDD QUANTAX de la marque BRUKERDétecteur : XFlash®6 (Dry Silicon Drift SDD)Taille 30 mm²Refroidissement par effet PeltierRésolution meilleure que 129 eV (FWHM) sur la raie du manganèse KaDétection à partir du bérilliumLogiciel de contrôle ESPRIT 3) JEOL JEM-F200 Cryo SourceCold FEGPERFORMANCES À 200 KVTEM point resolution : 0.27 nmTEM line resolution : 0.14 nmTEM Magnification range : 25X - 700kXMODE STEM À 200 KVSTEM Resolution : 0,19 nmSTEM magnification range : 100X - 5MXPOTENTIEL D'ACCÉLÉRATION80, 120 kV et 200 kVPorte-échantillon cryogénique avec station de pompage (SIMPLE ORIGIN) Porte-échantillon cryogénique à double-grilleMaintien  des températures d'échantillon basses et stables à environ -175 °C pendant environ 10 heures± 60° tilt (sur la pièce polaire cryo du F200)

Leica EM GP2 Automatic Plunge Freezer TempératureHumiditéTemps de Pre-blotTemps de BlottingTemps de Post-blotNumber of blottingPosition of blottingRotation de l’échantillonSimple ou multiple blotPeut être optimisé pour chaque spécimen et chaque type de grille. La température et la quantité d’azote peuvent être contrôlées. Appareils de microtomisation UC Enuity (LEICA)Ultramicrotome avec chambre cryoEM Rapid (LEICA)Pyramitome APPAREILS DE MÉTALLISATION À PULVERISATION CATHODIQUE QUORUM Q150T/ESEpaisseur de dépôt contrôlé par balance à quartzDépôts de métaux (nobles ou oxydables)Dépôt de CarboneHydrophilisation de surfacesJEOL JFC-1300Dépôts d’or MICROSCOPE OPTIQUE OLYMPUS BX51 Eclairage transmis et réfléchiCamera Olympus SC 30 (capteur CMOS de 3,3 mégapixels)Adaptateur Appareil-photo Olympus u-CMAD3Trinoculaire : x4, x20 et x50Programme Olympus cellSens Entry SUPPORT INFORMATIQUE Tecnai Imaging and Analysis softwareAvizo pour tomographie via Tecnai 20Aphelion Dev.Analysis station 

Le master est la seconde partie de votre cursus universitaire et suit votre formation le bachelier. Enrichi des recherches menées au sein de l’Université, il vise l’autonomie et la créativité et vous permet d’acquérir les compétences spécifiques indispensables à l’exercice de votre future profession. 

Avec plus de 30 ans d’expérience dans l’enseignement à horaire décalé / adapté, l’UNamur accueille chaque année plusieurs centaines d’étudiants dans ses formations de bachelier, de master et de master de spécialisation.

Le bachelier offre une formation de base dans une discipline universitaire. À l’UNamur, au-delà de l’acquisition de connaissances théoriques, vous êtes formés à une réflexion critique. Une attention particulière est accordée à chaque étudiant en première année. Faciliter votre transition de l’enseignement secondaire vers l’université est notre priorité.

Au terme de votre cursus universitaire de base, vous avez l’opportunité d’enrichir votre formation par un master de spécialisation dans des domaines où l’université a acquis une expertise et une reconnaissance particulière. 

Développées depuis la nuit des temps, les mathématiques façonnent notre vie quotidienne et développent des outils pour le futur. Au cœur des sciences dures, telles que la physique, la chimie ou la biologie, les mathématiques jouent un rôle primordial dans un grand nombre de problèmes appliqués, que ce soit en informatique et en télécommunication, à travers les mathématiques discrètes et l’algorithmique, en météorologie et dans le domaine spatial, à travers la théorie de systèmes dynamiques, ou en finance et dans l’actuariat, à travers les probabilités et les processus stochastiques.