Cet événement sera l’occasion pour les étudiants, chercheurs et représentants des industries, d'explorer l'évolution de la microscopie électronique, d'approfondir leur compréhension des techniques d'analyse avancées et de participer à des démonstrations en direct dans un environnement de recherche réel.

Programme détaillé

09h00 | Accueil avec café et viennoiseries

09h30 | Ouverture et présentation de la journée

10h30 | Conférence avec Emanuel Katzmann - Présentation : TEM / CRYO TEM.

11h30 | Conférence avec Yamaguchi-san - Présentation : imagerie SEM, préparation d'échantillons CP et FIB.

12h30 | Pause déjeuner

13h30 | Conférence avec Rick Verberne - Présentation : méthodes analytiques en microscopie électronique (EDS, EDS sans fenêtre, WDS, SXES, EBSD)

14h30 | Découverte de la plateforme de microscopie électronique - Présentation générale avant la visite guidée du laboratoire avec J.-F. Colomer

14h45 | Session pratique -MEB de paillasse JEOL JCM-7000.
Découvrez à quel point l'imagerie MEB de haute qualité peut être accessible et intuitive.
Au cours de cette session, nous vous présenterons :
• Les types d'échantillons adaptés et les consignes simples de préparation
• Comment choisir le mode d'observation optimal (SE, BSE, basse pression, etc.)
• L'utilisation pratique des détecteurs et des fonctions d'imagerie de l'instrument
• Analyse d'échantillons en direct — n'hésitez pas à apporter vos propres échantillons (veuillez nous informer à l'avance des échantillons que vous prévoyez d'apporter).

16h45 | Séances de clôture et questions-réponses

L'événement comprend également une visite guidée du laboratoire, suivie d'un verre et de collations pour conclure.

Les participants pourront échanger avec les spécialistes de JEOL et la plateforme de microscopie électronique lors de sessions pratiques et d'opportunités de réseautage.

L'événement offre 1 crédit ECTS aux chercheurs doctorants et un certificat de participation sur demande.

Inscription gratuite - nombre de places limité.