Le service met à disposition des utilisateurs deux microscopes à transmission FEI
TECNAI G² 20
Source
- Filament LaB6
Performances à 200kV
- TEM point resolution : 0.27nm
- TEM line resolution : 0.14 nm
- TEM Magnification range : 25X - 700kX
Mode STEM - HAADF detector
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STEM Resolution : 1nm
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STEM magnification range : 100X - 5Mx
potentiel d'acceleration
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de 80 kV à 200kV
Caméras
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Veleta (olympus) 2k x 2k
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Eagle (FEI) 4k x 4k
MICROANALYSEUR X À SÉLECTION D'ENERGIE SDD Quantax (BRUKER)
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Détecteur: XFlash® 6 (Dry Silicon Drift SDD)
- Taille:30mm2
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Refroidissement par effet Peltier
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Résolution meilleure que 129 eV (FWHM) sur la raie du manganèse Kalpha
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Détection à partir du bérillium
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Logiciel de contrôle ESPRIT
TECNAI 10
SOURCE
- Filament W
PERFORMANCES À 100KV
- TEM point resolution : 0.42nm
- TEM line resolution : 0.34 nm
- TEM Magnification range : 19X - 530kX
Modes d'imagerie
- mode champ clair (bright field)
- mode champ sombre (dark field)
Potentiel d'accélération
- de 40 kV à 100 kV
