SOURCE

Filament W

PERFORMANCES À 100 KV

• TEM point resolution : 0.42 nm
• TEM line resolution : 0.34 nm
• TEM Magnification range : 19X - 530kX

MODES D'IMAGERIE

• mode champ clair (bright field)
• mode champ sombre (dark field)

POTENTIEL D'ACCÉLÉRATION

• de 40 kV à 100 kV

SOURCE

Filament LaB6

PERFORMANCES À 200KV

• TEM point resolution : 0.27 nm
• TEM line resolution : 0.14 nm
• TEM Magnification range : 25X - 700kX

MODE STEM - HAADF DETECTOR

• STEM Resolution : 1 nm
• STEM magnification range : 100X - 5MX

POTENTIEL D'ACCÉLÉRATION

• de 80 kV à 200 kV

Microanalyseur X à sélection d’énergie SDD QUANTAX de la marque BRUKER

• Détecteur : XFlash®6 (Dry Silicon Drift SDD)
• Taille 30 mm²
• Refroidissement par effet Peltier
• Résolution meilleure que 129 eV (FWHM) sur la raie du manganèse Ka
• Détection à partir du bérillium
• Logiciel de contrôle ESPRIT

Source

Cold FEG

PERFORMANCES À 200 KV

• TEM point resolution : 0.27 nm
• TEM line resolution : 0.14 nm
• TEM Magnification range : 25X - 700kX

MODE STEM À 200 KV

• STEM Resolution : 0,19 nm
• STEM magnification range : 100X - 5MX

POTENTIEL D'ACCÉLÉRATION

• 80, 120 kV et 200 kV

Porte-échantillon cryogénique avec station de pompage (SIMPLE ORIGIN) 

• Porte-échantillon cryogénique à double-grille
• Maintien  des températures d'échantillon basses et stables à environ -175 °C pendant environ 10 heures
• ± 60° tilt (sur la pièce polaire cryo du F200)