Plateforme technologique Morph-Im
La microscopie à force atomique (AFM) pour la caractérisation topographique et mécanique des surfaces à l’échelle nanométrique.
Description
Nanoscope IIIa Multimode, Bruker.
Applications
Sciences des surfaces et des matériaux
Expertise
- Acquisition d'images de films moléculaires organiques et biologiques, de nano-objets et de nanostructures, de dépôts inorganiques, avec une résolution nanométrique.
- Informations sur la morphologie, la taille et la rugosité des systèmes imagés.
Localisation
Faculté des sciences, bâtiment B9, étage -1, local #-144
Contact
Francesca Cecchet | Responsable académique et technique