Documents utiles

documents relatifs à la préparation des échantillons pour la microscopie électronique et à l'utilisation des microscopes

Règlement en vigueur à partir de Novembre 2013

 

Afin d'avoir accès au Service, le formulaire d'imputation des frais, que vous trouverez ci-dessous, liés à l'utilisation des microscopes doit être retourné signé au Service de microscopie électronique (C. Charlier). 

 

Règlement : Règlement

Regulation : Regulation

 

Imputation : Imputation

préparation des échantillons

 

BALZERS CPD 030 : Mode d'emploi   -   Exemples d'applications

BALZERS Sputtering device : sputtering device

 

Méthode standard de préparation des échantillons pour microscopie électronique à transmission

 

mapping serveur SME

 

How to connect to network drive

 

Attention : les étudiants n'ont pas accès au serveur des facultés (politique du service informatique)

Pour ceux-ci, un ordinateur est à disposition au service pour récupérer les images sur clé USB.

 

guide d'utilisation

 

microscope à transmission TECNAI 10

microscope à balayage JEOL 7500F

 

Analyse EDS      /     Table d'énergie pour analyse EDS   /  Rayes énergétiques pour analyse EDS

 

Documents intéressants


le SEM de A à Z

Guide JEOL Microscopie à balayage

 

liens utiles

 

JEOLsite internet de Jeol

 

 

FEIsite internet de FEI