Microscope électronique à balayage

Le service met à disposition des utilisateurs deux microscopes à balayage de JEOL.

jeol-7500F

 JEOL 7500-F

Résolution      

  •  1.0 nm à 15kV
  • 1.4 nm à 1kV (mode Gentle beam)
  • 2.0 nm à 1kV (mode SEM)

    Grossissement

    • x 25 à x 1.000.000

    Modes d'imagerie

    • image d'électrons secondaires (SEI)
    • image d'électrons rétro-diffusés (LABE)
    • image en transmission d’électrons (TED)

    Potentiel d'accélération

    • mode SEM : 0.5 à 30 kV (par pas de 10V de 0.5 à 2.9kV et par pas de 100V de 2.9 à 30kV)
    • mode GB : de 0.1 à 4 kV (par pas de 100V)

    JEOL 6010LV

     

    RÉSOLUTION      

    High vacuum mode

    • 4.0 nm à 20 kV
    • 8.0 nm à 3 kV
    • 15.0 nm à 1 kV

    Low vacuum mode 

    • 5.0 nm à 20 kV

    GROSSISSEMENT 

    x 8 à x 300.000

     

    MODES D'IMAGERIE

     

    • image d'électrons secondaires (SEI)
    • image d'électrons rétro-diffusés (BEI)

     

     

     

     

    Possibilités